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2020年12月09日

蛍光X線分析装置について

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こちらは蛍光X線分析装置です。

 

 

蛍光X 線分析法(X-ray fluorescence analysis、XRF)は、「分析対象試料にX 線(1次X 線)を照射して含有元素の原子の内殻電子を励起し、励起された不安定な状態(内殻上に空孔が生じた状態)から安定状態に戻る時に発生するそれぞれの元素に固有の波長(エネルギー)を持ったX 線(蛍光X 線)を観測することによって、分析対象試料の含有元素を定性又は定量分析する方法」です(日本分析機器工業会ホームページより)。

 

 

蛍光X 線分析法は迅速に定性、および定量分析することができる機器分析法として幅広い分野で利用されています。また、他の機器分析法と比較して試料調製が簡便で分析精度が高いため、日常的な品質管理分析だけでなく、新たな材料や製品の研究・開発に対しても有効な分析手法となっています。

 

 

 

私たちの会社では、主に無機物(フィラーなど)の分析に役立っています。

 

 

無機物はこの蛍光X線分析装置、有機物はFT-IR(赤外分光光度計)と使い分けることにより、幅広い分析、研究・開発に役立てています。

 

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